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一、導波雷達物位計測量原理
低強度電磁脈沖以納秒級寬度被發射并沿著剛性或柔性的導體以光速行進，當脈沖接觸到介質表面時被反射。反射信號被儀表接收，發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與基準面到被測介質表面的距離成正比。通過測量發射與接收的時間間隔，來實現基準面至被測介質表面距離的測量。

①時間1：產生初始脈沖
②時間2：沿導體向下行進，速度 C（光速）
③時間3：脈沖遇到被測介質表面發生反射
④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄
⑤脈沖信號從被發射到被接收之間的時間差 T，與基準面到介質表面的距離 D 成正比：D=C×T/2
⑥測量的基準面是： 螺紋底面或法蘭的密封面
⑦A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲區
⑧運行時，保證最高料位不能進入測量盲區D
二、導波雷達物位計技術優勢
1、更高的動態信號和更窄的脈沖帶來更高精度與重復性；
2、低介電常數介質的最佳選擇；
3、能量集中，具有更強抗干擾能力，大大提高了可靠性；
4、測量盲區更小，對于小罐測量也會取得優異效果；
5、測量靈敏、刷新速度快、安裝簡便、牢固耐用、免維護；
6、幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復雜工況的影響；
7、采用兩線制回路供電的技術，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節省成本；
8、采用先進微處理器和獨特回波處理技術，可適用于各種復雜工況；
9、發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體環境沒有無傷害；
10、帶有按鍵的顯示屏可方便設置儀表的參數；
11、更小的體積，減少安裝難度；
三、導波雷達物位計技術規格
1、特征參數

2、過程連接

3、輸出參數